PDL2000 PDL 标准具 详情介绍PDL2000 PDL标准具
Polarization Dependent Loss Artifact
产 品 规 格
概 述 Descriptions
偏振相关损耗标准具PDL2000是一种高精度光学标准，指在验证和校准偏振敏感应用中使用的测量设备，如电信和光学测试。它提供了稳定、定义明确的PDL值，使其成为基准测试和确保测量精度的理想选择。
PDL2000集成了一致的偏振相关衰减元件，提供可控且可重复的PDL值.这使得用户能够在其设备中精确验证和校准PDL测量。
在典型应用中，PDL2000连接到测量系统，以评估各种偏振状态下的性能。它有助于验证 PDL准确度、插入损耗随时间的稳定性以及不同波长的一致性。这确保了可靠的设备性能和测量的可追溯性符合行业标准。
通过将标准PDL集成到测试程序中，用户可以提高不同设备和环境下的测量一致性，增强对保持高质量光网络性能至关重要的数据的信心。
特 点 Features 应 用 Applications
主要特征 § 稳定的PDL值 § 多个PDL值可选 § 宽波长范围 § 低插入损耗 § 高重复性 § 紧凑而坚固的设计 § 有多种连接器类型可供选择 | 应用 § PDL测量设备的校准 § 光学元件性能的验证 § 常规设备性能检查 § 质量保证的可追溯性 § R&D研发中心光学系统 |
性 能 指 标 Specification
PDL值 | 0.1、0.2、0.4、0.5、1.0、1.5、2.0dB，其他值也可选 | |
PDL不确定性 | (0.005dB+ 1%的PDL) | |
波长范围 | 1520-1620nm或1260-1360nm | |
插入损耗 | PDL + 0.7dB | |
回波损耗 | 50dB | |
温度稳定性 | 0.001 dB/°C | |
最大输入功率 | 300mW | |
连接器类型 | FC、SC、LC、ST | |
工作温度 | 23±5°C | |
储存温度 | -40 to 80°C | |
尺寸 | 10.5 x 10 x 76mm | |
注意:
1. 中心波长?? = 1550?m和1310nm。对于1550nm版本，校准波长范围为1520-
1620nm。对于1310nm版本，校准波长范围为1260-1360nm。
2. 指标是指不带连接器的值
尺寸
订购信息 Order information
PDL2000
波长 : 13:1310nm 15:1550nm | PDL值 : 005: 0.05 010: 0.1 020: 0.2 040: 0.4 050: 0.5 100: 1.0 200: 2.0 | 连接器类型 : FP: FC/PC 或 FA: FC/APC SP: SC/PC或SA: SC/APC LP: LC/PC 或 LA: LC/ APC STP:ST/PC 或 STA: ST/APC |